Владімірова Т. П. Двокристальна рентгенівська дифрактометрія в діагностиці монокристалів з декількома типами мікродефектів довільних розмірів

Розроблено новий метод повних кривих дифракційного відбиття (КДВ) на основі створення нової теоретичної моделі для опису повної КДВ, що включає окіл точного бреггівського положення. Ця модель базується на використанні ряда виконаних у роботі узагальнень динамічної теорії розсіяння рентгенівських променів у кристалах з хаотично розподіленими дефектами кулонівського типу, які полягають у врахуванні динамічного характеру дифузного розсіяння (ДР) при аналітичному інтегруванні ДР по сфері Евальда, у врахуванні наявності в кристалі одночасно декількох типів дефектів довільних розмірів, а також у врахуванні інструментальних факторів розробленої рентгенооптичної схеми двокристального дифрактометра. Для реєстрації КДВ в таких випадках створено високороздільний (трьохосьовий), чотирикружний, автоматичний дифрактометр, на якому зібрані оригінальні рентгенооптичні схеми. В дисертації виявлено і описано осциляції інтенсивності асимптотичного ДР, які дозволили суттєво підвищити надійність визначення параметрів дефек тів. Показані однозначність, високі чутливість і інформативність діагностики розробленим методом.