Бударіна Н. М. Дослідження структури кристалів з великою густиною планарних дефектів методом повнопрофільного аналізу дифрактограм

English version

Дисертація на здобуття ступеня кандидата наук

Державний реєстраційний номер

0403U002005

Здобувач

Спеціальність

  • 01.04.13 - Фізика металів

28-05-2003

Спеціалізована вчена рада

Д26.168.01

Анотація

Встановлено взаємозв'язок між дифракційними ефектами і типом та густиною планарних дефектів. Доведено, що методи діагностики дефектної структури, розвинені в рамках припущення низької концентрації планарних дефектів, потребують суттєвого корегування. Завдяки розвиненому в роботі методу повнопрофільного аналізу дифрактограм встановлена кореляція між параметрами мікроструктури порошків міді і характеристиками механо-активаційного процесу їх отримання.

Файли

Схожі дисертації