Грицаєнко Я. О. Розсіювання поверхневих та об’ємних електромагнітних хвиль шорсткими кристалічними поверхнями

Дисертація присвячена вивченню процесів, пов’язаних з розсіюванням об’ємних та поверхневих електомагнітних хвиль шорсткими кристалічними поверхнями, а саме визначенню коефіцієнта підсилення ППП, який визначається як відношення інтенсивностей розсіяних дифракційною граткою p- та s-поляризованих хвиль, вивчення залежностей цього коефіцієнта від параметрів гратки; вивчення залежності процесу розсіювання ППП від шорсткості поверхні та можливостей її використання для реконструкції профілю поверхні шляхом відновлення дифракційного зображення; вивчення можливостей застосування явища розсіювання об’ємних хвиль для дослідження процесів кристалізації аморфних плівок на прикладі плівок оксиду індія-олова. У роботі проведено детальний огляд літературних джерел, присвячених тематиці роботи, в результаті якого означено питання, що ще є невивченими. Особливу увагу приділено експериментальним особливостям вимірювання розсіяного світла як нанооб ́єктами на поверхні напівпровідників та металів так і самою металічною поверхнею, через які в роботі було застосовано оригінальні експериментальні методи вимірювання і аналізу параметрів розсіяного світла. У роботі представлено результати вимірювання фактора підсилення плазмон поляритонів, величина якого складає приблизно 30000. Також виявлено неспівпадіння розрахунку PSDппп з PSD для об’ємних хвиль та запропоновано якісне пояснення даного явища. Показано, що вимірювання розсіювання об’ємних хвиль та ППП поверхнями може бути використане для визначення шорсткості поверхні, реконструкції її рельєфу та вивчення процесу кристалізації аморфних плівок. Експериментально продемонстровано можливість створення методу для захоплення наночастинок з рідини на основі явища сильної локалізації поля при збудженні ППП на краях штрихів дифракційної гратки. Ключові слова: розсіювання хвилі, кристалічна поверхня, шорсткість поверхні, поверхневі хвилі, об’ємні хвилі, поверхневі плазмон поляритони.