Красікова І. Є. Нові кількісні методи визначення структури матеріалів у електронній мікроскопії

English version

Дисертація на здобуття ступеня кандидата наук

Державний реєстраційний номер

0421U103410

Здобувач

Спеціальність

  • 01.04.07 - Фізика твердого тіла

15-09-2021

Спеціалізована вчена рада

Д 26.207.01

Інститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича Національної академії наук України

Анотація

Дисертаційна робота присвячена розробці методики математично визна- ченої кількісної характеризації структури матеріала за його електронно- мікроскопічним зображенням. У роботі виконана адаптація математичної моделі мультифрактального формалізму для визначення кількісних характеристик зображень структури ма- теріалів, і на її основі розроблено відповідне програмне забезпечення, яке дає стійкі результати їх обчислень. Висока продуктивність розробленого програм- ного забезпечення допускає принципову можливість включення її до існуючих програмних пакетів обробки електронно-мікроскопічних зображень в режимі реального часу, в тому числі до програмного забезпечення, яке вбудовано в еле- ктронні мікроскопи. За допомогою представленої методики з метою верифікації моделей і роз- робленого програмного забезпечення проведено дослідження отриманих муль- тифрактальних і фізичних характеристик гарячепресованих композитів AlB12– AlN, яке дозволяє зробити важливий висновок про те, що з фізичними характе- ристиками можуть бути пов'язані не тільки мультифрактальнi характеристики зображень структури фаз, але і мультифрактальнi характеристики виділених на них систем границь (границь зерен, границь фаз — в залежності від досліджу- ваного матеріалу). Отримано результати розрахунків фрактальних характерис- тик плівок хрому, осаджених в аргоні при зміні температури осадження та в залежності від доданків кисню. Показана наявність кореляції фрактальної роз- мірності та фізичних характеристик плівок хрому — твердістю H та наведеним модулем пружності (1 2 ) r E = E − ν . Досить високий ступінь кореляції спостері- гається як при обчисленнях фрактальної розмірності площини фотографій, так і для систем виділених границь. Ключові слова: електронно-мікроскопічне зображення, структура ма- теріалу, межи зерен, кількісна характеризація, фрактальна розмірність, му- льтифрактальні характеристики.

Файли

Схожі дисертації

0424U000081

Чурілов Ігор Георгійович

Особливості термічного впливу на морфологічні зміни і механізм утворення рідкої фази у конденсованих однокомпонентних плівках (Pb, Sn, In, Bi) та у бінарних шаруватих плівках (Bi/Sn, Pb/Sn, Pb/In)

0424U000065

Мазур Дмитро Вікторович

Особливостi рентґенiвських спектрiв поглинання та магнiтного циркулярного дихроїзму оксиґенвмiсних сполук на основi металiв 4-го перiоду

0523U100214

Олійник Сергій Володимирович

Фізичні основи формування електричних та фотоелектричних властивостей кристалів AIIBVI і електричних властивостей багатокомпонентних покриттів

0522U100045

Богданов Євген Іванович

Ефекти азимутальної асиметрії розсіяння випромінення у кристалах та новітні можливості дифузнодинамічної дифрактометрії

0522U100002

Владимирський Ігор Анатолійович

Термодифузійні структурно-фазові зміни в гетерогенних системах на основі магнітних і немагнітних наношарів