Перегон Т. И. Образование и поведение дефектов в тонких металлических пленках, облученных ионами гелия и водорода

Объект исследования: Пленки эпитаксионные меди, золота, никеля, ванадия, ниобия, хрома и поликристаллические железа. Цель исследования: Исследование закономерностей образования радиационных дефектов в приповерхностном слое металлов. Методы исследования и аппаратура: Измерения электросопротивления (Р-306), рентгендифрактометрический анализ (ДРОН-2), термодесорбционная массспектрометрия (ПТИ-7А), электронная микроскопия (ЭВМ-100Л). Теоретические результаты и новизна: Показано, что размещение гелия и водорода зависит от дозы ионов и типа решетки; при нагреве отгорают собственные дефекты, выделяется газ благодаря диффузии, дисоциации комплексов, миграции гелиевых пузырьков. Практические результаты и новизна: Впервые разработаны новые эффективные методики разделения дефектов и определения профиля распределения атомов гелия в тонких металлических пленках. Сфера (область) использования: Радиационная физика, конструкционное материаловедение; ХФТИ АН Украины, ХПИ, ИПМ АН Украины.