Федухин А. В. Разработка методов ускоренной оценки надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем

English version

Дисертація на здобуття ступеня

Державний реєстраційний номер

0494U002812

Здобувач

Спеціальність

  • 05.13.05 - Комп'ютерні системи та компоненти

15-04-1994

Спеціалізована вчена рада

Д 016.45.02

Анотація

Объект исследования: Методы оценки надежности ИЭТ. Цель исследования: Повышение точности и достоверности методов. Методы исследования и аппаратура: Математический анализ и моделирование. Теоретические результаты и новизна: Разработана новая вероятностно-физическая модель надежности ИЭТ. Практические результаты и новизна: Разработаны новые методы ускоренной оценки надежности ИЭТ. Предмет и степень внедрения: Точность повышена в 10 и более раз. Эффективность внедрения: Большая. Сфера (область) использования: Межотраслевая.

Схожі дисертації