Герега А. Н. Применение перколяционных моделей для исследования свойств молекулярных систем

Объект исследования: Аморфизированные полупроводники, пошликристаллические пленки. Цель исследования: Повышение качества полупроводников материалов на основе создания перколяционных моделей. Методы исследования и аппаратура: Математическое моделирование молекулярных кластеров. Теоретические результаты и новизна: Модели эффекта дальнодействия, тонких пленок и аморфизированных слоев. Практические результаты и новизна: Рекомендации по повышению качества поликристаллических пленок. Предмет и степень внедрения: Метод прогнозирования надежности резисторов. Эффективность внедрения: Улучшение стабильности резисторов, снижение уровня шумов. Сфера (область) использования: ПО Электронмаш, завод Промсвязь (г. одесса), электронная промышленность.