Марченко А. А. Сканирующая туннельная микроскопия тонких пленок длиноцепочечных алифатических соединений

English version

Дисертація на здобуття ступеня

Державний реєстраційний номер

0497U000659

Здобувач

Спеціальність

  • 01.04.18 - Фізика і хімія поверхні

27-03-1997

Спеціалізована вчена рада

К 01.96.02

Анотація

Объект исследования: Тонкие пленки стеарататов на LaB6 (100). Цель исследования: Изучение структуры пленок и факторов, влияющих на них. Методы исследования и аппаратура: Сканирующий туннельный микроскоп. Теоретические результаты и новизна: Обнаружен. Практические результаты и новизна: Обнаружен эффект упорядочения пленок. В практику сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) введена новая подложка. Предмет и степень внедрения: Упорядоченные органические пленки. Эффективность внедрения: Возможность применения в современных технологиях производства микросхем и наносхем. Сфера (область) использования: Микро- и наноэлектроника.

Схожі дисертації