борча М. Д. Определение реальной структуры кристаллов методами многоволновой дифрактометрии

Объект исследования: Реальные кристаллы. Цель исследования: Экспериментальное и теоретическое исследование многоволновых процессов рассеяния рентгеновских лучей реальными кристаллами. Методы исследования и аппаратура: Многоволновая дифрактометрия и топография, метод Косселя, метод интегральной интенсивности и числовые методы. Теоретические результаты и новизна: Лополнение физических представлений о закономерностях формирования многоволновых областей дифракции в реальных кристаллах. Практические результаты и новизна: Разработка неразрушающих методов исследования совершенства монокристаллов и определение деформаций в переходных слоях гетероструктур. Предмет и степень внедрения: Неразрушающие методы контроля совершенства кристаллов. Эффективность внедрения: Возможность из одной дифрактограммы определять компоненты тенз. дефор., технологий синтеза алмаза с заданными свойствами. Сфера (область) использования: Полупроводниковое материаловедение.