Кравчук М. О. Высокоточные поляриметрические исследования параметров оптической анизотропии кристаллов

Объект исследования: Кристаллы с естественной и индуцированной гиротропией, сегнетоэлектрические и дихроичные кристаллы. Цель исследования: Создание автоматизированного высокоточного поляриметра, разработка эффективных методик для одновременного измерения параметров оптической анизотропии кристаллов с учетом несовершенства аппаратуры и их использование при исследовании диэлектрических кристаллов. Методы исследования и аппаратура: Матричные методы Джонса та Мюллера, методы симметрийно-тензорного анализа и высокоточной поляриметрии. Теоретические результаты и новизна: Методики определения параметров оптической анизотропии кристаллов на автоматизированном поляриметре для разных схем размещения его оптических элементов. Исследовано естественную и индуцированную оптическую активность в кристаллах Pb (Ge Si ), Gd (MoO) , линейный и циркулярный дихроизм в кристаллах группы галлогерманатов. Практические результаты и новизна: Способ тестирования поляризационных элементов, независимый от качества входного поляризатора. Критерии оценки качества электрически-управляемых компенсаторов. Предмет и степень внедрения: Предложенные методики могут быть использованы в оптическом приборостроении. Сфера (область) использования: Кристаллооптика и оптическое приборостроение.