Прядкин С. Л. Использование сканирующей туннельной микроскопии для изучения поверхности твердых тел проводников

Объект исследования: Поверхности монокристаллов (110)W, (100)W, (0001)YBa2Cu3O7-x,(111)Si. Цель исследования: Изучение влияния морфологии поверхности на рассеяние электронов проводимости, электронных свойств поверхности и методов нанолитографии на поверхности. Методы исследования и аппаратура: Сканирующая туннельная микроскопия, комнатный, криогенный и сверхвысоковакуумный СТМ. Теоретические результаты и новизна: Впервые с помощью моделирования рассеяния электронов на определенном с помощью СТМ рельефе поверхности объяснены результаты по фокусировке электронов проводимости от поверхности (100) вольфрама. Практические результаты и новизна: Впервые на сколах YBa2Cu3O7-x in situ измеряна щель, разработаны методы нанографической модификации с широким диапазоном создаваемых особенностей на поверхности (111) Si, получены изображения атомно чистой поверхности (100)Сu и поверхности Cu(100)Cl. Предмет и степень внедрения: Публикации,патент, доклады, практическое использование. Сфера (область) использования: Физика твердого тела, физика поверхности, нанотехнология.