Савчук Т. О. Методи та алгоритми покомпонентного діагностування цифрових пристроїв, що базуються на реконфігурації їх структури

Об'єкт дослідження-цифрові пристрої.Мета дослідження - удосконалення й подальший розвиток методів й алгоритмів бездефектного контролю цифрових об'єктів дослідження за рахунок розробки ефективних машинних процедур пошуку дефектів і апаратних засобів тестування, що спрямовані на збільшення глибини діагностування.Методи дослідження та апаратура - аналітичні, експериментальні, ПЕОМ, вимірювальні прилади.Теоретичні й практичні результати - розроблено модель процесу бездефектного тестування цифрових пристроїв, а також методи та алгоритми їх покомпонентного діагностування, що базуються на реконфігурації об'єкту дослідження на час проведення діагностичного експерименту при недопущенні вторинних дефектів. Запропоновано алгоритм аналізу тестопридатності цифрових пристроїв.Ступінь упровадження - у межах галузі.Сфера ( галузь) використання - системи автоматичного діагностування.