Гецко О. М. Физические свойства молекулярных слоев и анодноокисных пленок на поверхности некоорых твердых тел

Объект исследования: Молекулярные слои и анодноокисные пленки на поверхности твердых тел. Цель исследования: Выяснить влияние специфических поверхнотсных обработок на физические свойства модифицированной поверхности. Методы исследования и аппаратура: Оптическая спектроскопия, эллипсометрия, метод счета фотонов, КСВУ, ЛЭФ-3, многоканальный анализатор NTA-1024. Теоретические результаты и новизна: Впервые предложена теория эллипсометрии сверхтонких пленок. Практические результаты и новизна: Предложены метады неразрушающего контроля качества поверхности. Результаты работ являются основой целенапраленного поиска методов управления поверхностными свойствами твердого тела. Предмет и степень внедрения: Физические идеи и новые экспериментальные мтеодики, полученные результаты содействуют прогрессу исследований и физике поверхности. Эффективность внедрения: Внедрены новые эффективные мтеоды изучения и контроля поверхности твердого тела. Сфера (область) использования: Физика твердого тела, физика поверхности.