Аль М. Р. Методи i алгоритми оцiнки тестопридатностi цифрових пристроїв на етапi проектування

У роботi набувають подальшого розвитку методи оцiнки тестопридатностi засобiв обчислювальноє технiки. Розробленi методи та алгоритми, що пiдвищують якiсть та ефективнiсть оцiнок тестопридатностi з використанням семантики структури цифрових пристроєв. Сформульованi умови, методика та алгоритми забезпечення дiагностованостi обчислювальних пристроєв на структурному, функцiональному та схемотехнiчному рiвнях. Запропонованi кiлькiснi показники дiагностованостi для таких пристроєв, а також функцiє оптимiзацiє часових та апаратурних затрат на дiагностування. Пропонуїться формування САПР дiагностичного забезпечення на основi експертноє системи фреймового типу з елементами нечiткоє логiки.