Іванов Д. Є. Розробка методів моделювання і тестування пошкоджених цифрових пристроїв у багатозначних алфавітах

Об'єкт дослідження: методи моделювання та тестування цифрових пристроїв із пошкодженнями. Мета роботи: підвищення ефективності автоматизованого діагностування цифрових схем. Використано методи технічної діагностики, теорії бульових функцій, перемикаючих схем. Розроблено: 1) алгоритм паралельного подійного моделювання цифрових пристроїв із пошкодженнями у 16-значному алфавіті; 2) методи підвищення швидкодіі паралельного моделювання, суміщеного із одиночним розповсюдженням пошкоджень: статичне та динамічне сортування пошкоджень, функціонально-структурний спосіб внесення дії пошкоджень; 3) генетичний алгоритм генерації перевіряючих тестів для послідовністних схем. Запропоновані алгоритми реалізовані програмно у вигляді автоматизованої системи моделювання і діагностики АСМІД-Е, яку було використано для проектування реальних схем шахтної автоматики у ВАТ “Автоматгірмаш”.