Бойчук В. О. Багатоаспектний метод та алгоритми генерації тестів комбінованого діагностування мікропроцессорних пристроїв.

Дисертація присвячена питанням розвитку тестового комбінованого діагностування сучасних мікропроцесорних пристроїв. В роботі запропонована нова структурно-поведінкова модель МПП як об'єктів діагностування, котра є комбінацією поведінкових та структурних складових, які пов'язані нечіткими відношеннями. На основі запропонованої моделі розроблено новий багатоаспектний метод генерації тестів комбінованого діагностування МПП, який характеризується паралельним хвильовим алгоритмом розповсюдження проявів несправностей. Для їх розповсюдження через вузли моделі або сукупність вузлів використовуються розв'язки невизначених (діофантових) рівнянь або їх систем, які одержуються в процесі аналізу програмних модулів вузлів. Запропоновані способи запобігання конфліктів, що виникають при побудові тестів, згідно з багатоаспектним методом. На основі нечітких відношень складових моделі розроблено метод мінімізації кількості тестової інформації. Основні результати роботи знайшли своє використання при створенні підсистем и генерації тестів, що дозволило спростити структуру та розширити функціональні можливості програмного забезпечення систем комбінованого діагностування, підвищити достовірність пошуку несправностей та ефективність систем тестового комбінованого діагностування.