Баловсяк С. В. Діагностика поверхні твердого тіла при умові повного зовнішнього відбивання Х-променів

English version

Дисертація на здобуття ступеня кандидата наук

Державний реєстраційний номер

0403U003293

Здобувач

Спеціальність

  • 01.04.07 - Фізика твердого тіла

26-09-2003

Спеціалізована вчена рада

Д 76.051.01

Анотація

Розроблено нові методики відтворення рельєфу та структурних параметрів поверхні твердого тіла методами інтегральних та диференційних кривих повного зовнішнього відбивання Х-променів. Тестові зразки GaAs і SiO2, для яких середньоарифметична висота нерівностей 0,26нм<Ra<4,39нм, а їх просторовий період 0,4мкм<Tm<11,9мкм, досліджені незалежним методом атомно-силової мікроскопії. Для опису форми диференційних кривих та профілю поверхні використано фрактальний підхід.

Файли

Схожі дисертації

0424U000081

Чурілов Ігор Георгійович

Особливості термічного впливу на морфологічні зміни і механізм утворення рідкої фази у конденсованих однокомпонентних плівках (Pb, Sn, In, Bi) та у бінарних шаруватих плівках (Bi/Sn, Pb/Sn, Pb/In)

0424U000065

Мазур Дмитро Вікторович

Особливостi рентґенiвських спектрiв поглинання та магнiтного циркулярного дихроїзму оксиґенвмiсних сполук на основi металiв 4-го перiоду

0523U100214

Олійник Сергій Володимирович

Фізичні основи формування електричних та фотоелектричних властивостей кристалів AIIBVI і електричних властивостей багатокомпонентних покриттів

0522U100045

Богданов Євген Іванович

Ефекти азимутальної асиметрії розсіяння випромінення у кристалах та новітні можливості дифузнодинамічної дифрактометрії

0522U100002

Владимирський Ігор Анатолійович

Термодифузійні структурно-фазові зміни в гетерогенних системах на основі магнітних і немагнітних наношарів