Когут М. Т. Динамічна інтегральна дифрактометрія порушених поверхневих шарів монокристалів з мікродефектами

Здійснено експериментальну перевірку та отримано підтвердження при дифракції за Бреггом унікальної чутливості повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) до дефектів. Встановлено обумовлюючу цю чутливість динамічну природу збільшення ПІВЗ виключно за рахунок переважаючого зростання з посиленням порушень дифузної складової ПІВЗ при зменшенні її когерентної складової як причини високої інформативності діагностики. При дифракції за Лауе експериментально встановлено динамічну природу розсіяння, що проявляється у зміні знаку впливу дефектів на ПІВЗ при переході від наближення "тонкого" до наближення "товстого" кристалів, що і обумовило її унікальну чутливість до дефектів. Створено, експериментально апробовано та використано для діагностики моделі динамічної дифракції в ідеальних кристалах з порушеним поверхневим шаром (ППШ) та в кристалах, що містять як випадково розподілені дефекти (ВРД), так і ППШ. На основі цих моделей розроблено нові принципи розділення внесків ППШ та ВРД в ПІВЗ, що базуютьсяна керуванні співвідношеннями між довжинами екстинкції та довжинами і глибинами абсорбції. Запропонований новий метод є унікальним, оскільки забезпечує кількісну діагностику нанорозмірних характеристик як порушеного шару на поверхні монокристала, так і випадково розподілених в об'ємі дефектів.