Гевик В. Б. Х-променева дифракція в кристалах та багатошарових нанорозмірних системах, що містять дислокаційні петлі

English version

Дисертація на здобуття ступеня кандидата наук

Державний реєстраційний номер

0405U004882

Облікова картка дисертації

0405U004882.pdf

Здобувач

Спеціальність

  • 01.04.07 - Фізика твердого тіла

28-10-2005

Спеціалізована вчена рада

Д 76.051.01

Анотація

За допомогою чисельних методів розв'язку рівнянь Такагі проаналізовано механізми динамічного розсіяння Х-променів у випадку аномального проходження на окремих структурних дефектах (дислокаціях, дислокаційних петлях і бар'єрах) в кремнії. Знайдено структурні параметри багатошарових нанорозмірних систем, що містять квантові ями типу InxGa1-xAs1-yNy за допомогою Х-променевої двокристальної дифрактометрії.

Читати повністю

Файли

Diser.doc

aref.doc

Схожі дисертації

0424U000065

Мазур Дмитро Вікторович

Особливостi рентґенiвських спектрiв поглинання та магнiтного циркулярного дихроїзму оксиґенвмiсних сполук на основi металiв 4-го перiоду

0523U100214

Олійник Сергій Володимирович

Фізичні основи формування електричних та фотоелектричних властивостей кристалів AIIBVI і електричних властивостей багатокомпонентних покриттів

0522U100045

Богданов Євген Іванович

Ефекти азимутальної асиметрії розсіяння випромінення у кристалах та новітні можливості дифузнодинамічної дифрактометрії

0522U100002

Владимирський Ігор Анатолійович

Термодифузійні структурно-фазові зміни в гетерогенних системах на основі магнітних і немагнітних наношарів

0521U102118

Корнющенко Ганна Сергіївна

Структуроутворення і фізичні властивості близькорівноважних металевих, оксидних та багатокомпонентних конденсатів з нанорозмірними елементами