Крицун І. І. Багатохвильова Х-променева дифрактометрія реальних кристалів

English version

Дисертація на здобуття ступеня кандидата наук

Державний реєстраційний номер

0405U004997

Облікова картка дисертації

0405U004997.pdf

Здобувач

Спеціальність

  • 01.04.07 - Фізика твердого тіла

28-10-2005

Спеціалізована вчена рада

Д 76.051.01

Анотація

Розвинено експериментальні і теоретичні методи визначення періодів граток та їх змін при впливі деформації і температури, встановлено механізми та закономірності формування профілів інтенсивності, розроблено нові алгоритми та програмне забезпечення, а також спеціальні пристрої, що значно підвищують експресність і роздільну здатність багатохвильової дифрактометрії.

Читати повністю

Файли

Disser-Krizyn.doc

aref.doc

Схожі дисертації

0424U000081

Чурілов Ігор Георгійович

Особливості термічного впливу на морфологічні зміни і механізм утворення рідкої фази у конденсованих однокомпонентних плівках (Pb, Sn, In, Bi) та у бінарних шаруватих плівках (Bi/Sn, Pb/Sn, Pb/In)

0424U000065

Мазур Дмитро Вікторович

Особливостi рентґенiвських спектрiв поглинання та магнiтного циркулярного дихроїзму оксиґенвмiсних сполук на основi металiв 4-го перiоду

0523U100214

Олійник Сергій Володимирович

Фізичні основи формування електричних та фотоелектричних властивостей кристалів AIIBVI і електричних властивостей багатокомпонентних покриттів

0522U100045

Богданов Євген Іванович

Ефекти азимутальної асиметрії розсіяння випромінення у кристалах та новітні можливості дифузнодинамічної дифрактометрії

0522U100002

Владимирський Ігор Анатолійович

Термодифузійні структурно-фазові зміни в гетерогенних системах на основі магнітних і немагнітних наношарів