Хижняк Т. А. Діагностика напівпровідникових перетворювачів із застосуванням вейвлет-функцій m-ічного аргументу

Об'єкт дослідження: процес діагностування напівпровідникових перетворювачів на основі часових залежностей струмів та напруг. Мета: розробка нових методів діагностування напівпровідникових перетворювачів на основі вейвлет-спектрів часових залежностей їх струмів та напруг для попередження поступових відмов та визначення причин раптових відмов. Методи: математичне моделювання, теоретичні положення кратномасштабного аналізу, математичний апарат дискретних спектральних перетворень на кінцевих інтервалах та дискретних вейвлет-перетворень, теорія класифікаційного розподілу об'єктів, принципи побудови узгоджених фільтрів. Основні результати: побудова базису вейвлет-перетворення із застосуванням системи ортогональних дійсних функцій m-ічного аргументу дозволила в (N-1) разів збільшити обсяг даних про процеси в напівпровідникових перетворювачах та в 1.5 разів зменшити кількість рівнів розкладання, порівняно з вейвлет-перетвореннями Хаара та Добеші. Розроблено нові методи діагностування напівпровідникових перетворювачів, засновані на спільному застосуванні теорії класифікації та вейвлет аналізу, і на побудові узгоджених фільтрів з кінцевими імпульсними характеристиками у вигляді вейвлет-функцій m-ічного аргументу, що дозволило кількісно визначати ступінь наближення поточного стану перетворювача до аварійних станів і, порівняно з існуючими методами, зменшити час діагностування та кількість параметрів, за якими воно виконується.