Гузь О. О. Структурно-функціональний аналіз тестопридатності при проектуванні цифрових систем на кристалах

Мета дисертаційного дослідження – розробка моделей та методів структурно-функціонального аналізу тестопридатності проектованих цифрових систем на кристалах , що дозволяють суттєво зменшити час верифікації та обсяг діагностичної інформації при одночасному покращенні якості тестів і глибини діагностування дефектів. Основні результати: новий структурно-функціональний метод аналізу тестопридатності цифрових систем на кристалах (TADATPG), нова функціональна сильнозв'язна трикомпонентна TFY-модель тестування цифрових систем на кристалах, нова неітеративна модель діагностування цифрових систем на кристалах, удосконалена модель процесу вибору контрольних точок, удосконалений П-алгоритм синтезу кубічних покрить. Практична значущість отриманих результатів полягає у програмній реалізації моделей та методів аналізу тестопридатності, вибору критичних контрольних точок сканування складних цифрових систем на кристалах в цілях синтезу тестів, моделювання несправностей та діагностування дефектів; імплементації програмних засобів аналізу тестопридатності та наступної модифікації цифрових проектів в систему SIGETEST, валідному тестуванні методу, моделей та програмних засобів шляхом порівняння з існуючими світовими аналогами за допомогою тестових бібліотек провідних фірм, а також інтеграції в сучасні маршрути проектування SoC на основі стандартів граничного сканування IEEE (11.49, 1500) .