Камінська М. О. Системні моделі аналізу тестопридатності цифрових структур на кристалах

Дисертаційна робота присвячена розробці системних моделей та методів аналізу тестопридатності та подаль-шої модифікації проектів, що представлені системним, регістровим та вентильним рівнем для суттєвого змен-шення часу синтезу та моделювання тестів та зменшення діагностичної інформації. Вперше розроблено новий структурно-функціональний метод, що може бути використаний на вентильному та регістровому рівнях; вперше розроблено методи аналізу тестопридатності програмних та апаратних продуктів TASL та TGA, моделі яких представлені орієнтованими графами регістрових передач та керування; запропонована модель процеса вибору контрольних точок, яка орієнтована на аналіз структур вентильного, регі-стрового та системного рівней; модель тестування цифрових систем з використанням модифікованої комірки регістра сканування та зваженого тесту, генерованого на основі показників тестопридатності, що дозволяє суттєво зменшити час тестування та генерації тестів одночасно з покращенням глибини покриття дефектів.