Мудар А. . Методи та засоби підвищення ефективності тестового діагностування запам'ятовуючих пристроїв.

Об'єкт дослідження: процес тестового діагностування мікросхем і модулів пам'яті. Мета дослідження: розробка методів та засобів вибору оптимізованого набору тестів. Предмет дослідження :методи та засоби, які підвищують ефективність тестового діагностування запам'ятовуючих пристроїв. Методи дослідження: Автоматизація синтезу мікрооперацій в алгоритмах тестів. Для вибору оптимізованої послідовності тестів застосована теорія нечітких множин та алгоритми нечіткого виводу. Теоретичні та практичні результати: сформульовані завдання тестового діагностування; модифіковано алгоритм "бульбашок" сортування масиву даних; розроблені UY-схеми алгоритмів та програми тестів march FD, march A; розроблена програма Optimal_Test на мові C++. Новизна: вперше розроблено метод середньозважених оцінок діагностичних властивостей тестів; удосконалена математична модель машини Т'юрінга; знайшла подальший розвиток операторна модель несправностей мікросхем пам'яті; удосконалені прийоми розробки програм тестів мовою Prove.Ступень провадження: "Диава"Черкаси, ЧДТУ. Сфера використання: Системи діагностування запам'ятовуючих пристроїв.