Заболотний І. М. Комбінована модель динамічної інтегральної лаує-дифракції у вигнутих кристалах з дефектами

На єдиних принципах створено моделі інтегральної лауе-дифракції для граничних випадків як "тонкого" (товщини кристалів співмірні з глибиною абсорбції), так і "товстого" (товщини значно перевищують довжини абсорбції) пружно вигнутих кристалів з дефектами багатьох типів. На цій основі створено комбінований метод багатопараметричної діагностики мікродефектів декількох типів, одночасно присутніх в кристалах, по деформаційним залежностям повної інтегральної інтенсивності дифрагованого випромінення у "тонких" та "товстих" кристалах, що спільно обробляються. При цьому моделі факторизуються, тобто, параметри, що описують деформаційну залежність ПІІ, не залежать від дефектної структури зразка, а визначаються в явному вигляді умовами дифракції та хімічним складом досліджуваних монокристалів і є різними для бреггівської та дифузної складових ПІІ. Залежності цих складових від характеристик дефектів співпадають з відповідними для невигнутих кристалів і не змінюються при вигинах, але змінюються співвідношення цих складових