Молодкін В. В. Ефект чутливості до дефектів залежностей від умов дифракції картини багатократного розсіяння у кристалах

English version

Дисертація на здобуття ступеня кандидата наук

Державний реєстраційний номер

0413U000266

Здобувач

Спеціальність

  • 01.04.07 - Фізика твердого тіла

24-12-2012

Спеціалізована вчена рада

Д 26.001.23

Київський національний університет імені Тараса Шевченка

Анотація

Вперше встановлено новий ефект появи унікальної чутливості до характеристик дефектів залежностей від умов дифракції картини розсіяння за рахунок його багатократності. Розкрито природу цього ефекту та основні механізми його прояву, конкуренція яких забезпечила як підвищення на кілька порядків величини чутливості діагностики дефектів, так і дозволила вирішити проблему однозначного розв'язання оберненої задачі багатопараметричної діагностики.

Файли

Схожі дисертації

0424U000081

Чурілов Ігор Георгійович

Особливості термічного впливу на морфологічні зміни і механізм утворення рідкої фази у конденсованих однокомпонентних плівках (Pb, Sn, In, Bi) та у бінарних шаруватих плівках (Bi/Sn, Pb/Sn, Pb/In)

0424U000065

Мазур Дмитро Вікторович

Особливостi рентґенiвських спектрiв поглинання та магнiтного циркулярного дихроїзму оксиґенвмiсних сполук на основi металiв 4-го перiоду

0523U100214

Олійник Сергій Володимирович

Фізичні основи формування електричних та фотоелектричних властивостей кристалів AIIBVI і електричних властивостей багатокомпонентних покриттів

0522U100045

Богданов Євген Іванович

Ефекти азимутальної асиметрії розсіяння випромінення у кристалах та новітні можливості дифузнодинамічної дифрактометрії

0522U100002

Владимирський Ігор Анатолійович

Термодифузійні структурно-фазові зміни в гетерогенних системах на основі магнітних і немагнітних наношарів