Скапа Л. М. Дисперсійна природа прояву недосконалостей структури кристалів у картині багатократного розсіяння

У роботі розкрито дисперсійну природу нового фізичного явища підсилення на порядки величини прояву недосконалостей структури кристалів у картині багатократного розсіяння випромінення. А саме: показано, що у випадку багатократного розсіяння виникає новий механізм впливу недосконалостей структури кристалу не лише, як у кінематичній картині, на амплітуди розсіяних хвиль (амплітудний механізм), а і на модулі їх хвильових векторів (дисперсійний механізм, який і забезпечує суттєве підвищення структурної чутливості). Показано, що саме відкритий дисперсійний механізм не лише до п'яти порядків величини збільшує чутливість діагностики дефектів, а також забезпечує появу структурночутливих залежностей картини багатократного розсіяння від різних умов дифракції, взаємопов'язаних як між собою, так і з залежностями від характеристик дефектів. Це збільшує інформативність, зокрема забезпечує можливість багатопараметричної діагностики, що принципово відсутнє у кінематичному випадку та суттєво змінює результати класифікації дефектів за Кривоглазом та призводить до їх залежності від умов та методів дифрактометрії. Тим самим створено основи дисперсійної (високочутливої та інформативної) діагностики недосконалостей структури кристалічних багатопараметричних систем.