Бендак А. В. Одержання, структура та фізичні властивості тонких плівок на основі аргіродитів Cu6PS5X (X= I, Br), Cu6PSe5I ТА Cu7GeS5I

Дисертаційна робота присвячена одержанню тонких плівок на основі суперіонних сполук зі структурою аргіродиту Cu6PS5X (X= I, Br), Cu6PSe5I та Cu7GeS5I, дослідженню взаємозв’язку їх структурних, електричних, механічних та оптичних властивостей, впливу на них зовнішніх чинників. Одержано тонкі плівки на основі сполук зі структурою аргіродиту за допомогою магнетронного розпилення мішені та технології HiTUS. Виявлено, що зі збільшенням вмісту міді в тонких плівках на основі Cu6PS5I електрична провідність нелінійно зростає, твердість, ширина псевдозабороненої зони та урбахівська енергія нелінійно зменшуються, а показник заломлення нелінійно збільшується. Зменшення урбахівської енергії свідчить про процеси упорядкування структури, які відбуваються при збільшенні вмісту міді в плівках на основі Cu6PS5I. У порівнянні з кристалічними аргіродитами в тонких плівках на їх основі виявлено зменшення електричної провідності, зменшення ширини псевдозабороненої зони, посилення електрон-фононної взаємодії, збільшення показника заломлення та урбахівської енергії, а відповідно – і зростання структурного розупорядкування. Встановлено значне збільшення ширин смуг у спектрах раманівського розсіювання тонких плівок на основі Cu6PS5I у порівнянні з монокристалом Cu6PS5I, що свідчить про аморфну структуру отриманих плівок, у яких за рахунок ближнього порядку зберігаються структурні групи PS4, структура яких, однак, помітно спотворюється. Виявлено, що зі збільшенням часу рентгенівського та електронного опромінення в тонких плівках на основі аргіродитів відбувається зменшення ширини псевдозабороненої зони, збільшення урбахівської енергії та показника заломлення. Збільшення урбахівської енергії внаслідок розмиття краю поглинання свідчить про зростання структурного розупорядкування внаслідок рентгенівського та електронного опромінення.