Єгоров В. А. Підвищення метрологічних та експлуатаційних характеристик елементів та систем атомно-емісійного спектрального аналізу

Об’єкт дослідження: процес атомно-емісійного аналізу елементного складу речовини та способи підвищення його апаратної й аналітичної точності. Мета: виявлення фізичних закономірностей процесів збудження аналізу і реєстрації емісійних оптичних спектрів і використання цих закономірностей для розширення режимів збудження плазмових утворень, а також роздільної здатності й динамічного діапазону багатоканальних фотоприймачів. Методи: математичне моделювання і розрахунки процесів генерації спектрів, оптичних систем й систем реєстрації спектральних даних та експериментальні методи верифікації теоретично отриманих закономірностей. Теоретичні й практичні результати, наукова новизна: розроблено методи збільшення роздільної здатності й динамічного діапазону систем реєстрації та обробки даних спектральних вимірювань, методи контролю температури багатоелементних фотоприймачів без застосування додаткових температурних датчиків. Практичне значення: запропоновані методики можуть використовуватися для удосконалення апаратури емісійної спектрометрії. Сфера використання: прилади атомно-емісійного спектрального аналізу так і в суміжних областях оптичної спектрометрії, дистанційному зондуванні, одержанню зображень в інфрачервоному і радіодіапазоні.