Спольник З. М. Приспособление рентгенофлуоресцентного анализа для контроля стехиометрии высокотемпературных сверхпроводников, которые содержат висмут

Объект исследования: Высокотемпературные системы прецизионного и экспертного контроля стехиометрии ВТНП материалов, которые содержат висмут. Цель исследования: Создание системы презизионного и экспертного контроля стехиометрии ВТНП материалов, которые содержат висмут. Методы исследования и аппаратура: Рентгенофлуооресцентныйанализ, электроннозондовая микроскопия, титриметрия, атомно спектроскопия, методы математической статистики. Теоретические результаты и новизна: Решение основных методических вопросов, которые обеспечивают прецизионный и экспертный рентгеноспектральный анализ 4-5и компонентных систем в частности, высокотемпературных сверхпроводников. Практические результаты и новизна: Новый способ получения излучателей для рентгенофлуоресцентного анализа оксидных материалов; презиционная и экспертная методики контроля стехиометрии сверхпроводников, которые содержат висмут. Предмет и степень внедрения: Методики контроля стехиометрии сверхпроводников, которые содержат висмут внедрены в практику отдела аналитической химии института монокристаллов АНУ, ИЗНХ РАН (г. Москва), ИНХ СВ РАН (г. Новосибирск). Эффективность внедрения: Использование разработаных методик до решения вопросов материаловедения высокотмпературных сверхпроводников. Сфера (область) использования: Аналитическая химия и материаловедение высокотемпературных сверхпроводников и других сложных оксидных жидкостей.