Томила Т. В. ІЧ-спектроскопія дефектних станів, наведених механічною та термічною обробкою мікрокристалічних систем

Дисертацція на здобуття наукового ступеня кандидата фізико-математичних наук за спеціальністю 01.04.07 - фізика твердого тіла. Інститут проблем матеріалознавства НАН України, Київ 1999. Методом ІЧ-спектроскопії було виконано дослідження еволюції тонкої дефектної структури дисперсних мікрокристалічних систем на прикладі: ZnO, Al2O3, Si,SiO2, SiC, Si3N4, BN, B4C, TiO2, силікатів кальцію, глин, шлаків та їх сумішів, що піддавались механічній та термічній обробкам. Із застосуванням теорії середніх дiелектричних констант аналізувались морфологічні аспекти формування дисперсних систем при різноманітних обробках та розвивались механізми процесів, що відбуваються. Виявлено ефекти поліморфізму при механічній обробці (МО) Al2O3, та запропановано схему розкриття поверхневої мікротріщини, що супроводжується альфа - тета фазовим переходом. Встановлено та з'ясовано природу проявлення розтягуючих напружень в поверхневій оболонці SiO2 на частинках карбіду кремнію. Вивчено роль вихідної дефектної структури дисперснихси стем в процесах їх перебудови при зовнішніх впливах.