Чешун В. М. Оптимізація послідовностей тест-векторів в процесі тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв

Послідовності тест-векторів для тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв. Підвищення ефективності та достовірності процесу тестового комбінованого діагностування. Методи дослідження та апаратура - комп'ютерне моделювання, експериментальні дослідження з використанням системи діагностування. Новизна - урахування динамічних несправностей. Теоретичні і практичні результати - методики та алгоритми оптимізації послідовностей тест-векторів, спосіб апаратної реалізації умовних алгоритмів діагностування. Ступінь впровадження - інструментальний засіб діагностування (є акти впровадження) Сфера використання - системи та комплекси тестового діагностування цифрових пристроїв.