Усов В. В. Фрактальна природа анізотропії фізичних властивостей деформованих металевих систем з кубічними решітками

English version

Дисертація на здобуття ступеня доктора наук

Державний реєстраційний номер

0502U000166

Облікова картка дисертації

0502U000166.pdf

Здобувач

Спеціальність

  • 01.04.01 - Фізика приладів, елементів і систем

12-04-2002

Спеціалізована вчена рада

Д 41.052.06

Анотація

Дослідженою є природа виникнення анізотропії макроскопічних властивостей (електро - і теплопровідність, теплове розширення, які є ізотропними в бездефектних кристалах), що описуються тензорами другого рангу, в деформованих металевих системах з кубічними решітками. Розробленою є фізична модель структури деформованих металевих систем, яка базується на понятті фрактала, та реалізована методика розрахунку електро - і теплопровідності, теплового розширення, пружних властивостей деформованих матеріалів, яка базується на фрактальній моделі та ідеях ренорм - групових перетворень. Комп'ютерне моделювання поширення крихкої тріщини в металевих системах показало, що конфігурація тріщин є фракталом.

Читати повністю

Файли

aref1.doc

dis_pdf.pdf

ВВЕДЕНИЕ.doc

Дисертацияdoc.doc

ЛИТЕРАТУР2.doc

РАЗДЕЛ 2_а.doc

Раздел 1_б.doc

Раздел3.doc

Раздел4.1.doc

Раздел4.2.doc

Раздел4._0.doc

Раздел4._00.doc

Раздел5.doc

Таблица 4.10.doc

Таблица 4.11.doc

Таблица 5.5.doc

Схожі дисертації

0421U103746

Шутилєва Ольга Вікторівна

Фазовий склад та магніторезистивні і магнітні властивості приладових структур на основі Ni і Со та Dy або Ві

0421U103438

Ополонін Олександр Дмитрович

Принципи характеризації матеріалів за ефективним атомним номером при радіографічному контролі

0521U101782

Цибрій Зіновія Федорівна

Фізико-технологічні основи розроблення HgCdTe-приймачів ІЧ та ТГц діапазонів і елементів блокування ІЧ випромінювання

0521U101665

Гуменюк-Сичевська Жанна Віталіївна

Оптоелектронні властивості низьковимірних структур на основі вузькощілинних напівпровідників в ІЧ і ТГц діапазонах спектру

0421U102655

Єгоров Вадим Анатолійович

Підвищення метрологічних та експлуатаційних характеристик елементів та систем атомно-емісійного спектрального аналізу