Лень Є. Г. Основи динамічної багатопараметричної дифрактометрії монокристалів з дефектами

Відкрито явище унікальної структурної чутливості залежностей картини багатократного розсіяння від умов дифракції випромінень в монокристалах з дефектами. Встановлено, що природа цього явища полягає у виникненні взаємозв'язку між залежностями динамічної картини розсіяння від характеристик дефектів і від умов дифракції за рахунок нелінійних ефектів взаємного впливу процесів багатократного розсіяння на періодичній і флуктуаційній частинах кристалічного потенціалу. Побудовано узагальнені теоретичні моделі динамічного розсіяння випромінень у кристалах з дефектами довільних розмірів для різних умов дифракції та методів вимірювання. Встановлено і кількісно описано механізми, що обумовлюють відкрите явище та забезпечують радикальне (на кілька порядків величини) підвищення чутливості до характеристик дефектів динамічної картини розсіяння в порівнянні з кінематичною. Розроблено та апробовано принципово нові кількісні методи динамічної багатопараметричної дифрактометрії дефектів декількох типів в монокристалах, які базуються на спільній обробці даних дифракційних експериментів, одержаних за різних умов динамічної дифракції та різними експериментальними методами, і забезпечують підвищення як чутливості, так і однозначності та інформативності комбінованої діагностики складних дефектних структур в монокристалічних виробах сучасних технологій.