Поздєєв С. В. Удосконалення еліпсометричного методу для атестації модифікованих електронним променем поверхонь оптичного скла.

English version

Дисертація на здобуття ступеня кандидата наук

Державний реєстраційний номер

0402U002725

Здобувач

Спеціальність

  • 05.11.13 - Прилади і методи контролю та визначення складу речовин

12-09-2002

Спеціалізована вчена рада

Д 26.002.18

Національний технічний університет України "Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського" Інститут енергозбереження та енергоменеджменту

Анотація

Проведено аналіз моделей механізмів впливу електронно-променевої обробки на поверхневі шари оптичних стекол з метою прогнозування властивостей виробів. Розроблено ефективні методи еліпсометричних досліджень даних зразків, сформульовані принципи еліпсометричного експрес-контролю якості поверхонь оптоелектронних скляних плат, отриманих у результаті електронно-променевої обробки, а також розроблені рекомендації до проведення еліпсометричних вимірювань.

Файли

Схожі дисертації