Юрченко Г. В. Широкозонні напівпровідникові шари ZnO:Al, ITO та CdS в плівкових фотоелектрично активних гетеросистемах

English version

Дисертація на здобуття ступеня кандидата наук

Державний реєстраційний номер

0403U001594

Облікова картка дисертації

0403U001594.pdf

Здобувач

Спеціальність

  • 01.04.01 - Фізика приладів, елементів і систем

17-04-2003

Спеціалізована вчена рада

К 55.051.02

Анотація

Об'єкт - фізичні процеси впливу технологічних рішень широкозонних напівпровідникових шарів на ефективність фотоелектрично активних плівкових багатошарових гетеро- систем; мета - розроблення фізичних основ матеріалознавчої оптимізації технології одержання широкозонних напівпровід- никових шарів для плівкових гетеросистем; методи - фізич- ні та структурні методи дослідження; новизна - вперше за- пропоновані фізичні роль та механізми деградації широко- зонних шарів ZnO:Al, ITO та CdS в багатошарових гетеро- системах; результати - підвищити ефективність плівкових фотоелектричних перетворювачів сонячного випромінюван- ня; галузь - геліоенергетика

Читати повністю

Файли

aref.doc

дисертация--ВЫВОДЫ.doc

дисертация--Содержание.doc

дисертация--Ссылки.doc

дисертация--введение.doc

дисертация--раздел1.doc

дисертация--раздел2.doc

дисертация--раздел3.doc

дисертация--раздел4.doc

дисертация--раздел5.doc

дисертация--титульный лист.doc

Схожі дисертації

0421U103746

Шутилєва Ольга Вікторівна

Фазовий склад та магніторезистивні і магнітні властивості приладових структур на основі Ni і Со та Dy або Ві

0421U103438

Ополонін Олександр Дмитрович

Принципи характеризації матеріалів за ефективним атомним номером при радіографічному контролі

0521U101782

Цибрій Зіновія Федорівна

Фізико-технологічні основи розроблення HgCdTe-приймачів ІЧ та ТГц діапазонів і елементів блокування ІЧ випромінювання

0521U101665

Гуменюк-Сичевська Жанна Віталіївна

Оптоелектронні властивості низьковимірних структур на основі вузькощілинних напівпровідників в ІЧ і ТГц діапазонах спектру

0421U102655

Єгоров Вадим Анатолійович

Підвищення метрологічних та експлуатаційних характеристик елементів та систем атомно-емісійного спектрального аналізу