Кшевецький О. С. Фізичні методи та пристрої для визначення реальної структури кристалів Х-променевою багатохвильовою дифракцією

English version

Дисертація на здобуття ступеня кандидата наук

Державний реєстраційний номер

0404U004841

Облікова картка дисертації

0404U004841.pdf

Здобувач

Спеціальність

  • 01.04.01 - Фізика приладів, елементів і систем

19-11-2004

Спеціалізована вчена рада

Д 76.244.01

Анотація

Здобули подальший розвиток методи дво- та багатохвильової дифракції Х-променів з метою дослідження структурних змін у кристалах, підданих дії різних зовнішніх сил. На основі розроблених методик щляхом функціонального вибору профілю одновимірних деформацій та оптимізації його параметрів проведено моделювання і співставлення експериментальних і теоретичних дифракційних картин, отриманих за допомогою методу Коселя та кривих дифракційного відбивання.

Читати повністю

Файли

AVTOR-KCHEVEZKIJ.doc

Kshevetskiy.doc

Схожі дисертації

0421U103746

Шутилєва Ольга Вікторівна

Фазовий склад та магніторезистивні і магнітні властивості приладових структур на основі Ni і Со та Dy або Ві

0421U103438

Ополонін Олександр Дмитрович

Принципи характеризації матеріалів за ефективним атомним номером при радіографічному контролі

0521U101782

Цибрій Зіновія Федорівна

Фізико-технологічні основи розроблення HgCdTe-приймачів ІЧ та ТГц діапазонів і елементів блокування ІЧ випромінювання

0521U101665

Гуменюк-Сичевська Жанна Віталіївна

Оптоелектронні властивості низьковимірних структур на основі вузькощілинних напівпровідників в ІЧ і ТГц діапазонах спектру

0421U102655

Єгоров Вадим Анатолійович

Підвищення метрологічних та експлуатаційних характеристик елементів та систем атомно-емісійного спектрального аналізу