Семенов І. Л. Вплив зіткнень на екранування макрочастинок в слабкоіонізованій плазмі

English version

Дисертація на здобуття ступеня кандидата наук

Державний реєстраційний номер

0413U005910

Здобувач

Спеціальність

  • 01.04.02 - Теоретична фізика

24-10-2013

Спеціалізована вчена рада

Д 26.191.01

Інститут теоретичної фізики ім. М. М. Боголюбова

Анотація

На основі чисельного розв'язку модельних кінетичних рівнянь проведено аналіз впливу зіткнень іон-нейтрал на процеси заряджання та екранування макрочастинок в слабкоіонізованій плазмі. Отримано залежності заряду частинок різного розміру від частоти зіткнень іон-нейтрал. Показано, що в зіткневій плазмі електричний потенціал частинки має асимптотичну поведінку кулонівського типу. Проведено аналіз впливу зіткнень іон-нейтрал на іонну силу опору, яка діє на частинку, що рухається. Показано, що іонна сила опору змінює напрям при зменшенні довжини вільного пробігу іонів.

Файли

Схожі дисертації